Page 39 - 《真空与低温》2025年第3期
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310 真空与低温 第 31 卷 第 3 期
薄膜在相对较低的电场下也可以实现电子场发射, 由于沟道尺寸远远小于空气中电子的平均自由程,
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这为制造三端器件提供了可能 。碳化硅(SiC)作 真空封装的要求也随之大幅降低,而这样能实现
为第三代半导体,其低电子亲和势(约 4 eV)和高热 快速响应的真空微纳电子器件未来可能在高速通
导率(4.7 W/cm·K)使其在极端环境下表现突出。 信 [16,39,50] 、生物医疗传感 [63–65] ,以及光电融合 [60,66-67]
例如,SiC 基垂直型场发射器件在 30 krad 辐射剂量 中起到重要作用。除此之外,真空微纳电子器件的
下无性能衰减,600 °C 下仍可稳定工作 [56] ,但 SiC 形式也未必仅限于阴极-栅极-阳极的基本构成,通
纳米线的小间隙制备依赖聚焦离子束(FIB)刻蚀, 过与现有成熟的微纳结构功能器件,如微纳超构表
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工艺成本较高 。除此之外,GaN 也凭借着其低 面等结构相结合,有机会迸发出新的火花。
电子亲和势、高击穿场强以及温度稳定性成为新 尽管目前真空微纳电子器件在 IC 等领域,受
一代场发射材料的有力竞争者 [39,45-46] 。 制于成熟的工艺、制程以及标准,相较于固态器件
低维材料,如石墨烯、碳纳米管、MoS 2 等,因 而言仍有很大差距。但是真空微纳电子器件在一
其独特的物理化学性质和优异的场发射性能,已成 些特殊的领域如高温、强辐射场的应用中具有非
为真空场发射器件中的重要研究对象。碳纳米管 常特殊的作用和意义,未来有很大希望被应用在深
(CNT)具有高长径比、高电导率、优异的机械强度 空应用中,这是真空微纳电子器件从原理上所带来
和化学稳定性,使其成为理想的场发射阴极材料。 的优势。截至目前,已有很多文献证实其在极端环
这些特性使得 CNTs 在低电压下实现高电流密度 境下的稳定性,早在 1999 年,Dean 等 [68] 通过制备
的场发射,从而满足多种应用需求 。金刚石凭借 单壁碳纳米管研究了长时间场发射的稳定性。实
[58]
负电子亲和势和高化学稳定性,可实现低开启电场 验证明在 10 Pa 下电流经过 350 h 没有明显衰减;
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(1 V/μm),但其纳米锥制备依赖复杂 CVD 工艺,不
−5
在 10 Pa 水蒸气下电流经过 100 h 没有明显衰减。
便于集成 。一项研究中使用了碳纳米管(CNT),
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2012 年,研究人员制备了 SnO 2 纳米线器件 ,由于
[69]
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开启电场低至 1.2 V/μm,电流密度达 556 mA/cm² 。
一维材料质量小、表面积大,理论上非常容易受到
然而,CNT 的分布均匀性、杂质残留及基底黏附性
物理和化学侵蚀,但在电场强度为 4.65 V/μm 下,
仍是瓶颈,转移过程中的裂纹和杂质也会影响器件
器件经过 2 400 min 的工作后电流既没有下降也没
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的性能 。此外,也有研究通过金纳米颗粒修饰石
有较大波动,相较先前的研究有进展,但受限于金
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墨烯,获得了更低的功函数,达到了 37.8 mA/cm 的
属氧化物熔点较低,在稳定性上暂时无法超过碳纳
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电流密度 。
米管器件。同样,基于近年来最新兴起的化合物半
当前场发射材料的核心挑战包括工艺一致性
导体材料也有类似的研究,2015 年研究人员制备
(如纳米间隙批量制备)、长期稳定性(材料氧化与
出了柔性 SiC 纳米尖端器件,在 1.5 V/μm 左右的电
尖端退化)和 CMOS 工艺的集成兼容性。未来的
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场下,维持 1 000 μA/cm 电流密度可达 60 min 且在
器件发展可能聚焦于材料复合,结构创新、极端环
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此过程中电流几乎没有变化 。同年,他们还制备
境适配与低成本制备。场发射材料的研究正从单
了一批硼掺杂 SiC 纳米尖端器件并测试了其在高
一性能优化转向多功能集成,但接下来的发展仍需
温下的稳定性 。通过将温度提升至 500 ℃,器件
[71]
跨学科合作,推动实用化进程。
的开启电压从 1.92 V/μm降低至 0.98 V/μm,且通过
4 真空微纳电子器件的应用前景 在室温以及 200 ℃ 下的持续测试,发射电流密度都
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真空微纳电子器件具有广阔的应用前景。随 维持在 510 μA/cm 左右,工作 8 h 内波动只有约
着新型纳米材料和纳米加工技术的不断进步,真空 1.3%。2023 年的一项研究中,研究团队通过制备
微纳电子器件小型化、集成化的发展为其成为新 多壁碳纳米管以及氧化锌掺杂的多壁碳纳米管验
一代高速电子器件打下了基础。具备了现今固态 证了发射的稳定性,所有测试样品在经过 14 h 的
晶体管的小尺寸、轻量化、集成化优势,场发射型 工作后发射电流都保持不变。
真空沟道三极管无须预热即可工作,而基于热发射 除了发射电流的稳定性,这类器件在抗辐射方
的器件仍需热惯性启动。这一特性使场发射器件 面的表现也可圈可点。Han 等 [51] 在一项研究中分
在快速响应场景中更具优势。这些优点使其自从 析了高能射线如 γ 射线以及 X 射线穿过介质层后,
被提出以来就受到了广泛的关注以及深入的研究。 产生了电子-空穴对,而电子与空穴迁移率的差异