Page 128 - 《真空与低温》2025年第3期
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刘丰源等:适用于微聚焦         X  射线源的微纳结构阳极钼靶热管理:热失稳机制及解决策略                            399


              近  0.8 或更高  [20] 。因此,在实际应用中可通过改变                  同样需要考虑接触界面的热阻影响。根据傅里叶
              靶材表面状态来调整热辐射功率。                                   导热定律,单位时间内通过靶材与铜的界面传递的

              1.3 微纳结构钼靶的复合热传导机理                                功率   P out3为 :
                                                                          [19]
                  微纳结构钼靶的散热不仅依赖于对环境的辐                                                      T Mo −T Cu
                                                                         P out3 = −K Mo A bottom         (4)
              射散热,还通过靶材的支撑物钨针进行接触传热。                                                    h+R c2 K Mo A bottom
              由于钨针的尺寸相较于靶材较小,且纵横比较大,                            式中:   K Mo为钼的导热系数;        T Cu为铜基底的表面温
              可以将其简化为一维平面壁导热问题。根据傅里                             度;h 为靶材的有效传热长度,近似对应为钼微纳
              叶导热定律,传热量与温差、导热系数及接触面积                            结构的高度;      R c2为钼靶与铜底座间的接触热阻。

              相关。然而,实际接触界面存在微观不平整性和接                            1.4 瞬态温度演化过程
              触压力的变化,这些因素会导致接触热阻的产生,                                 当靶材处于电子束轰击状态时,假设电子束的
              从而影响传热效率。考虑接触热阻后的传热功率                             输入功率     P in全部转化为热量。将式(1)~(3)代入
              P out2 为 :                                        热力学中的热量传递方程 ,可得到描述靶温                       T  随
                    [19]
                                                                                        [21]
                                        T Mo −T rotor           时间   t 变化的微分方程,即:
                       P out2 = −K w A contact         (3)
                                      L+R c1 K w A contact
                                                                          dT               (  4  4  )
              式中:   K w为钨的导热系数;        A contact 为钨针与钼靶的              mc  dt  = P in −ϵσA surface T −T −
                                                                                                 0
              接触面积;     T Mo为钼靶的表面温度;        T rotor 为钼转子的                               T Mo −T rotor   (5)
                                                                              K W A contact
              温度(即钨针末端温度);           L为钨针的有效传热长度;                                      L+R c1 K W A contact
              R c1为钼靶与钨针间的接触热阻。                                 式中:m   为钼靶的质量;c 为钼的比热容。对式(5)进
                  除了靶材与支撑物钨针的接触传热外,为了进                          行数值求解,可获得靶表面温度               T  的动态响应曲线。
              一步提高散热效果,器件设计中还考虑了与铜底座                                 同样地,当靶材不受电子束轰击且与铜底座接
              的接触传热。在钼靶与铜底座之间的传热过程中,                            触时,考虑全部散热途径的温度变化方程为:
                               dT    K Cu A bottom (T Mo −T Cu )   T Mo −T rotor         (      )
                                                                                           4
                            mc    = −                  − K Mo A contact        −ϵσA surface T −T  4      (6)
                               dt      h+R c2 K Cu A bottom      L+R c1 K Mo A contact         0
                  为确保微分方程的求解具有物理意义,设定了                          度低于本文的计算值,从而为设计提供额外的安全
              模型的温度场的明确初始条件和边界条件。对于                             裕度。
              式(5),初始时刻(t = 0 时)靶材温度设定为室温                            以直径    d 为  1 μm、厚度   h 为  0.9 μm  的钼微米
              ( T 0= 300 K);对于式(6),初始时刻(t = 0 时)靶材              柱阳极靶材为研究对象,已证明其产生的透射式微
              温度设定为       2 000 K。在整个计算过程中,环境温                  聚焦   X  射线具有优异的辐射性能            [12] 。设定电子束
              度 T 0、铜底座温度      T Cu以及钨针末端温度         T rotor 均保  能量为    40 keV、钼靶表面发射率         ϵ为  0.5,对不同电
              持恒定在     300 K。此外,考虑到钼材料的本征表面                     子束电流密度条件下,微纳结构钼靶温度随时间的
              特性,将靶材表面发射率设为               0.5。通过数值求解            变化进行了数值计算。
              上述方程,可获得钼靶温度             T  的动态响应曲线。需                  图  1 为理论计算(采用蒙特卡罗模拟)的仿真
              要说明的是,由于微纳结构钼靶的尺寸在微米量级,                           结构示意图,以及该柱形微纳结构钼靶在单位时
              其热扩散时间极短,远小于后续所研究的时间和计                            间内受到一个电子轰击时的能量沉积分布(右下
              算精度,因此可将靶材温度视为空间均匀分布。                             插图)。体探测区域设定为{(x,y,z)| x∈[−10 μm,

                                                                10 μm], y∈[−10 μm, 10 μm], z∈[−10 μm, 10 μm]},
              2 结果与讨论
                                                                足以包含整个微米柱靶材及其周围区域。能量沉

              2.1 靶温随时间变化规律及其影响因素                               积主要集中在电子入射点附近,呈现出从入射表面
                  虽然已建立了完整热力学模型,但在数值模拟                          向内部逐渐衰减的趋势。0.9 μm              厚度的靶材体内
              中并未考虑支撑物钨针的传热贡献。这种保守的                             沉积能量的值在          100~800 GeV/cm 内,说明大量
                                                                                                3
              计算方法评估了最不利散热条件下靶材的温度响                             热量在微小体积内的快速产生是后续靶材温度升
              应,可以为实际应用提供更为安全的设计参考。在                            高的根本原因。将能量沉积结果作为热源项,导入
              实际工作状态下,金属钨具有比钼更高的熔点,支                            有限元传热模拟软件(Comsol)中进行传热分析,得
              撑结构的传热贡献必然会增强散热效果,使工作温                            到了不同电子束电流密度下靶材温度随时间变化
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