Page 27 - 《摩擦学学报》2021年第2期
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172                                     摩   擦   学   学   报                                 第 41 卷

            背底斜率明显高于辐照剂量大于5 MGy样品的荧光背                          这意味着伽马辐照致使C-H键发生断裂,薄膜内氢除
            底斜率. 在含H碳膜内Raman光谱的荧光背底斜率与                         了以H 分子形式从表面逃逸外,更多的可能以游离态
                                                                    2
                                               [19]
            薄膜内的H含量呈现出一定的对应关系 . 这就说明                           的形式存在于薄膜缺陷位置. 图3(b)所示为原始a-
                                                      [20]
            辐照处理会引起薄膜内H含量的改变. Houska 等 的                       C:H薄膜样品和经13.5 MGy剂量辐照薄膜样品中H 的
                                                                                                          2
            研究证明,a-C:H薄膜内的氢除了大部分和C原子键合                         TDS测试结果. 由图可知,随加热温度的升高,原始薄
            外,还有一部分以游离态形式,物理吸附于薄膜空位、                           膜和辐照薄膜内的H 均逐渐释放. 但辐照样品的H 初
                                                                                                          2
                                                                                 2
            裂纹等缺陷位置. 为了确定a-C:H薄膜中H原子辐照前                        始释放温度为203±0.5 ℃,而原始样品内H 的初始释
                                                                                                    2
            后的化学状态,对辐照前后样品进行傅里叶红外光谱                            放温度为259±0.5 ℃. 辐照后a-C:H薄膜样品内的H 释
                                                                                                          2
            分析. 图3(a)所示为所测a-C:H薄膜的红外光谱在2 600~                  放温度低于未辐照样品,辐照薄膜内的H脱附所需的
                    −1
            3 200 cm 范围内的透射谱. 由图可知,所有样品在                       能量更低. 这也间接说明薄膜内一部分H以原子形式
                    −1
            2 900 cm 附近存在一个明显的吸收峰. 这是CH 官能                     单独存在,加热后经热振动结合为H 而优先脱附出来.
                                                                                             2
                                                     2
                           −1
                                              −1
            团对称(2 853 cm )和不对称(2 921 cm )吸收峰以及                 需要说明的是图3(b)中辐照薄膜所对应的离子电流积
                                              −1
                            −1
            CH 对称(2 876 cm )和不对称(2 955 cm )吸收峰的叠               分面积高于辐照前的面积,对应于辐照后脱附出来的
               3
            加峰  [21-22] . 随辐照剂量的增加,该叠加峰逐渐减弱,表                  H 多于辐照前薄膜的. 这可能是由于基底样品裁制过
                                                                2
            明经伽马辐照后,a-C:H薄膜内的CH 基团含量降低.                        程中的精度误差和薄膜制备过程中的厚度误差造成.
                                            x

                                                                                                        1 000

                    (a)                                                  (b)                         H 2
                                                                 8.00E−012    Pristine
                                                                              13.5 MGy                  800
                                                                 6.00E−012                              600
                  Transmittance                                 lon current/A  4.00E−012                400 Temperature/℃
                                             1 MGy
                              CH 2
                                     CH 3
                              (sym)  (asym)  Pristine            2.00E−012     Heating curve            200
                                             5 MGy
                                CH 3  CH 2   10 MGy
                                (sym)(asym)  13.5 MGy
                                                                 0.00E+000                              0
                  2 600  2 700  2 800  2 900  3 000  3 100  3 200       0  500  1 000  1 500  2 000  2 500  3 000  3 500  4 000
                              Wavenumber/cm −1                                        Time/s
                    Fig. 3  FTIR-ATR spectra of a-C:H films with respect to irradiation dose(a), and TDS curves of the pristine and
                                              irradiated a-C:H films at 13.5 MGy dose
                      图 3  a-C:H薄膜随辐照剂量变化的红外谱图(a)以及原始薄膜和13.5 MGy剂量辐照薄膜的TDS曲线(b)

                                                                       3
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                图4所示为未辐照a-C:H薄膜样品和经13.5 MGy                    内C-H sp 键含量降低. 这就说明薄膜内sp 相对含量的
                                                                               3
            剂 量 辐 照 薄 膜 样 品 在 距 离 表 面 约 100  nm位 置 的           增加主要是C-C sp 杂化原子的贡献. 而后续的TEM结
            TEM断面图谱. 图4(a)为原始样品的透射形貌,由图可                       果也直接观察到了辐照样品结构相对于原始a-C:H薄
            知,原始a-C:H薄膜明显是混乱的三维无序结构和部                          膜的更加无序化现象. 辐照诱发的这种a-C:H薄膜结
            分局部有序的二维结构[见图4(a)中红线圈出部位]的                         构的变化必然会引起力学性能和摩擦学性能的改变.

            混合组成,而经辐照后,a-C:H薄膜内局部有序结构显                         2.2    辐照剂量对a-C:H薄膜力学性能和摩擦学性
            著减少,薄膜趋于更加无序化,如图4(b)所示. 这表明                        能的影响
            由于辐照的影响,a-C:H薄膜内局部有序化组织形貌                              纳米压入测得辐照前后a-C:H薄膜的力学性能如
                                                     2
            逐渐消失. 伽马辐照使得原始a-C:H薄膜内的sp 二维                       图5所示. 未辐照a-C:H薄膜的纳米硬度和弹性模量分
                    3
            结构被sp 三维空间网络结构所代替.                                 别为9.0和83.2 GPa. 随γ辐照剂量的增加,a-C:H薄膜
                综上所述,由Raman和XPS结果可知,原始a-C:H                    的纳米硬度和弹性模量呈现逐渐增加的趋势. 当辐照
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            薄膜经γ辐照后薄膜内的sp 杂化原子向sp 杂化原子转                        剂量达13.5 MGy时,薄膜的纳米硬度和弹性模量分别
                         3
            移,使得薄膜sp 相对含量增加. 而红外结果表明,辐照                        达14.5和103.2 GPa. 图5内的插图为原始薄膜样品和
            使得薄膜内C-H键发生断裂,CH 基团含量降低,薄膜                         经13.5 MGy辐照样品的位移-载荷曲线. 由图5可知,
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