Page 43 - 《中国医疗器械杂志》2026年第1期
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部署在运动场
Chinese Journal of Medical Instrumentation [21] [21] 2026年 第50卷 第1期
研 究 与 论 著
诊断脑卒中
[26]
信号处理,例如k空间的低秩分解 和模型拟合方
[27]
法 ,受污染的k空间被分解为低秩和稀疏分量,
可以从低秩分量中获得无噪声的MRI信号。图4
所示为基于深度学习的有源干扰抑制的模型拟合方
法,其使用卷积神经网络(convolutional neural
network, CNN )拟合模型参数。
(c) MRI部署在病床边 Input Output
(c) MRI deployment at the bedside
图3 移动式低场MRI的应用场景 Conv Conv Conv
Fig.3 Application scenarios of mobile low-field MRI
Complex
4 移动式低场MRI设备研发中的创新点 k-space data k 3 k 3
n k 1 k 1 k 2 k 2
4.1 移动式磁共振成像磁体结构形式
n
磁体是移动式低场MRI系统中最重要的组成部
分。磁体结构主要包括Halbach结构、双极板结构 FC2 FC3 C1 C2 IMAGE
n 2 n 2 n×n m 1 ×n×n m 2 ×n×n n×n
和其他异型结构等。
( FC1 2
1)Halbach结构磁体。Halbach磁体结构紧
2n
凑,产生磁场效率高。2019年,荷兰莱顿大学 图4 有源干扰抑制的模型拟合方法
[22]
WEBB团队 利用2 948块钕铁硼磁块搭建了Halbach Fig.4 A model fitting method for active interference suppression
磁体结构,在直径27 cm的球形成像区域内的磁感
( 3)低频干扰信号主动控制方法研究。超低
应强度达到了50.4 mT。 场MRI设备易受工频干扰、电力列车以及其他大型
(
2)双极板结构磁体。永磁体的双极板结构
形状与电容相似,磁体的极化方向相同,均沿上下 运输系统产生的低频噪声影响。采用主动控制方法
能够更加精准地获取干扰信号特征,并采用合适的
[23]
两块平板法向。2020年,重庆大学 研制出用于脑
卒中诊断的低场MRI设备,并验证了其有效性。 控制方法进行干扰信号消除。利用信号传感器获取
( 干扰信号,根据信号特征设计相应的有源或无源滤
3)异型结构磁体。MCDANIEL与COOLEY
等 [24] 提出一种头盔式的颅脑MRI系统,磁场为 波器,通过模拟电路设计或数字电路设计将特征信
号经过放大等处理后输出至补偿线圈,进而产生补
63.6 mT,质量为6.3 kg。异型结构磁体产生的背景
偿磁场。
磁场在磁感应强度、磁场均匀度方面均无优势,距
离实现人体脑部成像的实际应用仍有差距。 ( 4)高频干扰信号主动控制方法研究。高频
干扰信号主动控制方法借助电磁干扰感应线圈采集
4.2 电磁兼容性优化与噪声抑制技术
针对噪声所处频段,可以采取不同的噪声消除 电磁干扰特征信号,并建立电磁干扰特征信号到射
方法。 频接收线圈噪声的映射模型,在不牺牲设备便携性
( 的条件下,获得较好的去噪效果。目前建立映射模
1)无源干扰屏蔽方法研究。对于低场MRI
型主要有三种方法:一是使用小波分析和最小二乘
设备,采用无源EMI屏蔽方法,不能影响设备的可
[28]
法等的自适应抑制方法 ;二是利用信号在时域和
移动性。因此无源电磁干扰去除方法需要在材料选
[29]
择、屏蔽层设计和设备结构等方面进行优化,满足 频域做线性回归 ;三是基于深度学习的方法,构
[30]
轻量化的要求。具体来说,可以通过合理应用高导 建网络模型 。
电性材料、高磁导率材料、多层屏蔽结构以及开口 4.3 基于并行成像和深度学习的快速成像
优化设计,来减少外部电磁干扰,提高MRI成像质 为了提升诊断效率和患者体验,加快成像速度
量。同时,可以配合吸波材料和无源滤波器,进一 一直是医学影像研究者重点攻关的课题。低场
步提升屏蔽效果和系统稳定性。 MRI的快速成像可以分为以下几步。
2)有源干扰抑制方法研究。有源干扰抑制
( ( 1)采样方式研究。对于低场磁共振的快速
方法是帮助MRI扫描仪完成轻量化目标的有效手 成像,采样方式研究是优化成像速度和质量的关键
段。目前该方法可分为两个主要部分:一部分是图 之一。传统的笛卡尔采样方式需要对整个频率空间
像后处理,例如设计滤波器 。然而,后处理方法 进行采样,而快速成像的欠采样方式包含笛卡尔欠
[25]
通常仅限于特定类型的干扰,并且原始图像中的 采样和非笛卡尔欠采样。笛卡尔欠采样包括均匀欠
一些重要信息在干扰抑制后会丢失。另一部分基于 采样、随机欠采样,以及带校准行和不带校准行的
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